12月4日下午，电子科学与技术专业实验第三组学生，电科17级陆留帅、吴所胃、黄富琴等13人，在三号教学区3306半导体物理实验室进行了“单晶少子状态测定”的开放性实验，此次实验由电科专业教师李阁进行指导。

首先，李阁老师为同学们介绍了该实验的目的与意义以及实验中需要注意的事项。并强调虽然同学们在半导体物理课上已经对晶体单元的物理特性进行了详细地学习和了解，但是由于课内实验课时有限，同学们只能在理论的基础上进行理解，所有我们要通过实验及实验结果，直观地了解晶体单元的特性之一，即晶体状态随时间是如何变化的。并使用物理测定仪练习物理测定的方法。

实验中，同学们需将实验仪器参数归零，然后在电极处涂抹一点样本液，待仪器显示温度到20度时，调高电压至高压状态。然后每隔三分钟观察一次输出阻值，并进行记录。最后将所记录的结果绘制在坐标轴中并连线。李阁老师表示，晶体状态虽然肉眼很难观察，但是根据实验仪器所测得的参数，以及绘制出的曲线，能够反映出其随时间变化的情况。将实验结果图与理论课上的结论进行对比发现，在忽略环境温度的情况下，实验结果与理论结论符合。

通过此次实验的开放，加深了同学们对实验器材的了解，体现了实践学习的意义。